GB/T 17626 的本部门涉及电子和/或电气设备的辐射发射和辐射抗扰度的丈量，划定了在全电波暗室（FAR）内进行的辐射发射和辐射抗扰度的试验法式。
注∶ 凭据 GB/Z 18509，本部门是供有关产品委员会使用的电磁兼容基础尺度，如导则 GB/Z 18509 所述，产品委员会掌管确定对其 EMC产品类尺度的合用性，TC 77/SAC/TC 246、CISPR/SAC/TC 79 及其分委员会（例如， SAC/SC 7）已筹备好与产品委员会在尺度造订和订正的合作中一路来确定特定 EMC 试验在具体产品中的作用。
本部门划定了在统一个全电波暗室进行辐射发射丈量与辐射抗扰度试验时的通用确认法式、受试设备（EUT）的试验安插要求以及全电波暗室丈量步骤（详见附录 A 和附录 B）。
作为电磁兼容基础丈量尺度，本部门对利用于具体装置或系统的抗扰度试验电平或发射限值不做具体划定，其重要指标是为国内有关产品委员会提供通例丈量法式，而针对产品的具体要求和试验前提由相应的产品委员会来划定。
本部门的步骤合用于 30 MHz～18 GHz 频率领域内的辐射发射和抗扰度丈量。

《GB T 17626.22-2017 电磁兼容 试验和丈量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度丈量》